Adhesion force measurements on hydrophobic and hydrophilic substratos with Atomic Force Microscopy

A. de Jongh, D.J. van den Heuvel, Kees van der Werf, B.G. de Grooth

    Research output: Contribution to conferencePaper

    Original languageEnglish
    Publication statusPublished - 31 Oct 1995
    EventDiskussionstagung Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien IV, 1995 - Munich, Germany
    Duration: 11 Oct 199513 Oct 1995
    Conference number: 4

    Conference

    ConferenceDiskussionstagung Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien IV, 1995
    CountryGermany
    CityMunich
    Period11/10/9513/10/95

    Cite this

    de Jongh, A., van den Heuvel, D. J., van der Werf, K., & de Grooth, B. G. (1995). Adhesion force measurements on hydrophobic and hydrophilic substratos with Atomic Force Microscopy. Paper presented at Diskussionstagung Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien IV, 1995, Munich, Germany.