| Original language | Undefined |
|---|---|
| Patent number | 1e USA |
| Priority date | 12/03/98 |
| Publication status | In preparation - 12 Mar 1998 |
Keywords
- METIS-118333
Afleiden van een iso-oppervlak in een meerdimensionaal dataveld
Jaap Smit (Inventor), Marco Bosma (Inventor)
Research output: Patent