Confocal Raman Scanning Electron Microscopy a Method for Parallel Non-Invasive High Resolution Analysis of Bone Samples

A.A. van Apeldoorn; Y. Aksenov; M. Stigter; I. Hofland; J.D. de Bruijn; H.K. Koerten; J. Greve; C. Otto; C. van Blitterswijk

Confocal Raman Scanning Electron Microscopy a Method for Parallel Non-Invasive High Resolution Analysis of Bone Samples

A.A. van Apeldoorn
, Y. Aksenov
, M. Stigter
, I. Hofland
, J.D. de Bruijn
, H.K. Koerten
, J. Greve
, C. Otto
, C. van Blitterswijk

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Academic › peer-review

Original language	English
Title of host publication	Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie 2004
Editors	H.K. Koerten
Place of Publication	Sassenheim
Publisher	Duineveld Drukkerij
Pages	76-77
Number of pages	2
Publication status	Published - 30 Nov 2004

Publication series

Name	Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie
Volume	2004
ISSN (Print)	1389-5362

1 Poster

Confocal raman scanning electron microscopy a method for parallel non-invasive high resolution analysis of bone samples
van Apeldoorn, A. A., Aksenov, Y., Stigter, M., Hofland, I., de Bruijn, J. D., Koerten, H. K., Greve, J., Otto, C. & van Blitterswijk, C., 7 Nov 2003. 1 p.
Research output: Contribution to conference › Poster › Other research output

Cite this

van Apeldoorn, A. A., Aksenov, Y., Stigter, M., Hofland, I., de Bruijn, J. D., Koerten, H. K., Greve, J., Otto, C., & van Blitterswijk, C. (2004). Confocal Raman Scanning Electron Microscopy a Method for Parallel Non-Invasive High Resolution Analysis of Bone Samples. In H. K. Koerten (Ed.), Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie 2004 (pp. 76-77). (Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie; Vol. 2004). Duineveld Drukkerij.

@inproceedings{d269f71e91984ba9be36541c778bee9e,

title = "Confocal Raman Scanning Electron Microscopy a Method for Parallel Non-Invasive High Resolution Analysis of Bone Samples",

author = "\{van Apeldoorn\}, A.A. and Y. Aksenov and M. Stigter and I. Hofland and \{de Bruijn\}, J.D. and H.K. Koerten and J. Greve and C. Otto and \{van Blitterswijk\}, C.",

year = "2004",

month = nov,

day = "30",

language = "English",

series = "Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie",

publisher = "Duineveld Drukkerij",

pages = "76--77",

editor = "H.K. Koerten",

booktitle = "Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie 2004",

}

van Apeldoorn, AA, Aksenov, Y, Stigter, M, Hofland, I, de Bruijn, JD, Koerten, HK, Greve, J, Otto, C & van Blitterswijk, C 2004, Confocal Raman Scanning Electron Microscopy a Method for Parallel Non-Invasive High Resolution Analysis of Bone Samples. in HK Koerten (ed.), Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie 2004. Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie, vol. 2004, Duineveld Drukkerij, Sassenheim, pp. 76-77.

Confocal Raman Scanning Electron Microscopy a Method for Parallel Non-Invasive High Resolution Analysis of Bone Samples. / van Apeldoorn, A.A.; Aksenov, Y.; Stigter, M. et al.
Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie 2004. ed. / H.K. Koerten. Sassenheim: Duineveld Drukkerij, 2004. p. 76-77 (Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie; Vol. 2004).

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Academic › peer-review

TY - GEN

T1 - Confocal Raman Scanning Electron Microscopy a Method for Parallel Non-Invasive High Resolution Analysis of Bone Samples

AU - van Apeldoorn, A.A.

AU - Aksenov, Y.

AU - Stigter, M.

AU - Hofland, I.

AU - de Bruijn, J.D.

AU - Koerten, H.K.

AU - Greve, J.

AU - Otto, C.

AU - van Blitterswijk, C.

PY - 2004/11/30

Y1 - 2004/11/30

M3 - Conference contribution

T3 - Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie

SP - 76

EP - 77

BT - Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie 2004

A2 - Koerten, H.K.

PB - Duineveld Drukkerij

CY - Sassenheim

ER -

van Apeldoorn AA, Aksenov Y, Stigter M, Hofland I, de Bruijn JD, Koerten HK et al. Confocal Raman Scanning Electron Microscopy a Method for Parallel Non-Invasive High Resolution Analysis of Bone Samples. In Koerten HK, editor, Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie 2004. Sassenheim: Duineveld Drukkerij. 2004. p. 76-77. (Jaarboek Nederlandse Vereniging voor Microscopie).

Confocal Raman Scanning Electron Microscopy a Method for Parallel Non-Invasive High Resolution Analysis of Bone Samples

Publication series

Research output

Confocal raman scanning electron microscopy a method for parallel non-invasive high resolution analysis of bone samples

Cite this