Degradation in Multi Layer Interconnects by Fast Thermal Cycling Stress

Van Hieu Nguyen, Cora Salm, J. Vroemen, J. Voets, B.H. Krabbenborg, J. Bisschop, A.J. Mouthaan, F.G. Kuper

    Research output: Contribution to conferencePosterOther research output

    Original languageUndefined
    Pages-
    Publication statusPublished - 18 Dec 2001
    EventWetenschappelijke Vergadering Werkgemeenschap Gecondenseerde Materie 2001 - Veldhoven, Netherlands
    Duration: 18 Dec 200119 Dec 2001

    Conference

    ConferenceWetenschappelijke Vergadering Werkgemeenschap Gecondenseerde Materie 2001
    CountryNetherlands
    CityVeldhoven
    Period18/12/0119/12/01

    Keywords

    • METIS-201151

    Cite this