Degradation in Multi Layer Interconnects by Fast Thermal Cycling Stress

H.V. Nguyen, C. Salm, J. Vroemen, J. Voets, B. Krabbenborg, J. Bisschop, A.J. Mouthaan, F.G. Kuper

    Research output: Contribution to conferencePosterOther research output

    Original languageEnglish
    Number of pages1
    Publication statusPublished - 18 Dec 2001
    EventWetenschappelijke Vergadering Werkgemeenschap Gecondenseerde Materie 2001 - Veldhoven, Netherlands
    Duration: 18 Dec 200119 Dec 2001

    Conference

    ConferenceWetenschappelijke Vergadering Werkgemeenschap Gecondenseerde Materie 2001
    Country/TerritoryNetherlands
    CityVeldhoven
    Period18/12/0119/12/01

    Cite this