Model- en risicogebaseerd testen voeren boventoon op Nederlandse Testdag

Research output: Contribution to journalArticleProfessional

Abstract

Met testen valt veel winst te behalen, maar in de praktijk is het vaak een kostbaar, lastig en ondergewaardeerd proces. Dit geldt des te meer voor snel veranderende, dynamisch configureerbare software. Evolvability was dan ook het onderwerp van de zeventiende Nederlandse Testdag. Mariëlle Stoelinga beschrijft de hoogtepunten die onlangs de revue passeerden tijdens dit congres op de Universiteit Twente.
Original languageUndefined
Pages (from-to)14-15
Number of pages2
JournalBits en chips
Volume113
Issue number15
Publication statusPublished - 27 Dec 2011

Keywords

  • EWI-21161
  • IR-79574
  • METIS-284963

Cite this

@article{43c6e0fa06914ac59eab1cdaeee1114f,
title = "Model- en risicogebaseerd testen voeren boventoon op Nederlandse Testdag",
abstract = "Met testen valt veel winst te behalen, maar in de praktijk is het vaak een kostbaar, lastig en ondergewaardeerd proces. Dit geldt des te meer voor snel veranderende, dynamisch configureerbare software. Evolvability was dan ook het onderwerp van de zeventiende Nederlandse Testdag. Mari{\"e}lle Stoelinga beschrijft de hoogtepunten die onlangs de revue passeerden tijdens dit congres op de Universiteit Twente.",
keywords = "EWI-21161, IR-79574, METIS-284963",
author = "N Roos and Stoelinga, {Mari{\"e}lle Ida Antoinette}",
year = "2011",
month = "12",
day = "27",
language = "Undefined",
volume = "113",
pages = "14--15",
journal = "Bits en chips",
issn = "1879-6443",
publisher = "Techwatch",
number = "15",

}

Model- en risicogebaseerd testen voeren boventoon op Nederlandse Testdag. / Roos, N (Editor); Stoelinga, Mariëlle Ida Antoinette.

In: Bits en chips, Vol. 113, No. 15, 27.12.2011, p. 14-15.

Research output: Contribution to journalArticleProfessional

TY - JOUR

T1 - Model- en risicogebaseerd testen voeren boventoon op Nederlandse Testdag

AU - Stoelinga, Mariëlle Ida Antoinette

A2 - Roos, N

PY - 2011/12/27

Y1 - 2011/12/27

N2 - Met testen valt veel winst te behalen, maar in de praktijk is het vaak een kostbaar, lastig en ondergewaardeerd proces. Dit geldt des te meer voor snel veranderende, dynamisch configureerbare software. Evolvability was dan ook het onderwerp van de zeventiende Nederlandse Testdag. Mariëlle Stoelinga beschrijft de hoogtepunten die onlangs de revue passeerden tijdens dit congres op de Universiteit Twente.

AB - Met testen valt veel winst te behalen, maar in de praktijk is het vaak een kostbaar, lastig en ondergewaardeerd proces. Dit geldt des te meer voor snel veranderende, dynamisch configureerbare software. Evolvability was dan ook het onderwerp van de zeventiende Nederlandse Testdag. Mariëlle Stoelinga beschrijft de hoogtepunten die onlangs de revue passeerden tijdens dit congres op de Universiteit Twente.

KW - EWI-21161

KW - IR-79574

KW - METIS-284963

M3 - Article

VL - 113

SP - 14

EP - 15

JO - Bits en chips

JF - Bits en chips

SN - 1879-6443

IS - 15

ER -