New concepts for EMC standards applicable to multimedia products

Nico van Dijk

Research output: ThesisPhD Thesis - Research external, graduation externalAcademic

53 Downloads (Pure)

Abstract

In het vakgebied van Elektromagnetische Compatibiliteit (EMC) kunnen globaal twee fenomenen beschouwd worden: de emissie en de immuniteit van elektronische producten. Emissiemetingen van elektronische producten worden uitgevoerd voor de bescherming van radio systemen. We spreken van een emissiemeting via geleiding als er een stroom wordt gemeten en van een meting van emissie via straling als een elektromagnetische veldgrootheid gemeten wordt. Immuniteitstesten worden uitgevoerd om elektronische producten te testen op de bestendigheid tegen elektromagnetische stoorsignalen.
Original languageEnglish
Awarding Institution
  • Eindhoven University of Technology
Supervisors/Advisors
  • Tijhuis, A.G., Supervisor
  • Leferink, Franciscus Bernardus Johannes, Supervisor
  • Beeckman, P.A., Co-Supervisor
Award date27 Jun 2007
Place of PublicationEindhoven, The Netherlands
Publisher
Print ISBNs978-90-74445-78-8
Publication statusPublished - 27 Jun 2007

Fingerprint

multimedia
trucks
products

Cite this

van Dijk, N. (2007). New concepts for EMC standards applicable to multimedia products. Eindhoven, The Netherlands: Eindhoven University of Technology.
van Dijk, Nico. / New concepts for EMC standards applicable to multimedia products. Eindhoven, The Netherlands : Eindhoven University of Technology, 2007. 138 p.
@phdthesis{9b5127763bd34d32936e9a7b3b391ff4,
title = "New concepts for EMC standards applicable to multimedia products",
abstract = "In het vakgebied van Elektromagnetische Compatibiliteit (EMC) kunnen globaal twee fenomenen beschouwd worden: de emissie en de immuniteit van elektronische producten. Emissiemetingen van elektronische producten worden uitgevoerd voor de bescherming van radio systemen. We spreken van een emissiemeting via geleiding als er een stroom wordt gemeten en van een meting van emissie via straling als een elektromagnetische veldgrootheid gemeten wordt. Immuniteitstesten worden uitgevoerd om elektronische producten te testen op de bestendigheid tegen elektromagnetische stoorsignalen.",
author = "{van Dijk}, Nico",
year = "2007",
month = "6",
day = "27",
language = "English",
isbn = "978-90-74445-78-8",
publisher = "Eindhoven University of Technology",
school = "Eindhoven University of Technology",

}

van Dijk, N 2007, 'New concepts for EMC standards applicable to multimedia products', Eindhoven University of Technology, Eindhoven, The Netherlands.

New concepts for EMC standards applicable to multimedia products. / van Dijk, Nico.

Eindhoven, The Netherlands : Eindhoven University of Technology, 2007. 138 p.

Research output: ThesisPhD Thesis - Research external, graduation externalAcademic

TY - THES

T1 - New concepts for EMC standards applicable to multimedia products

AU - van Dijk, Nico

PY - 2007/6/27

Y1 - 2007/6/27

N2 - In het vakgebied van Elektromagnetische Compatibiliteit (EMC) kunnen globaal twee fenomenen beschouwd worden: de emissie en de immuniteit van elektronische producten. Emissiemetingen van elektronische producten worden uitgevoerd voor de bescherming van radio systemen. We spreken van een emissiemeting via geleiding als er een stroom wordt gemeten en van een meting van emissie via straling als een elektromagnetische veldgrootheid gemeten wordt. Immuniteitstesten worden uitgevoerd om elektronische producten te testen op de bestendigheid tegen elektromagnetische stoorsignalen.

AB - In het vakgebied van Elektromagnetische Compatibiliteit (EMC) kunnen globaal twee fenomenen beschouwd worden: de emissie en de immuniteit van elektronische producten. Emissiemetingen van elektronische producten worden uitgevoerd voor de bescherming van radio systemen. We spreken van een emissiemeting via geleiding als er een stroom wordt gemeten en van een meting van emissie via straling als een elektromagnetische veldgrootheid gemeten wordt. Immuniteitstesten worden uitgevoerd om elektronische producten te testen op de bestendigheid tegen elektromagnetische stoorsignalen.

M3 - PhD Thesis - Research external, graduation external

SN - 978-90-74445-78-8

PB - Eindhoven University of Technology

CY - Eindhoven, The Netherlands

ER -

van Dijk N. New concepts for EMC standards applicable to multimedia products. Eindhoven, The Netherlands: Eindhoven University of Technology, 2007. 138 p.