Probe for an atomic force microscope and method for making such a probe

A.G. van den Bos; Leon Abelmann; J.C. Lodder

Probe for an atomic force microscope and method for making such a probe

A.G. van den Bos (Inventor), Leon Abelmann (Inventor), J.C. Lodder (Inventor)

Research output: Patent

21 Downloads (Pure)

Abstract

De uitvinding heeft betrekking op een probe voor een magnetische kracht-microscoop, omvattende een in een wafervlak geplaatste beweegbare cantilever en een in hoofdzaak loodrecht op de cantilever geplaatste tip, waarbij de cantilever beweegbaar is en een trillingsrichting heeft in het wafervlak, en d etip nagenoeg in of evenwijdig aan dit wafervlak ligt.

Original language	Undefined
Patent number	US20050499174
Priority date	24/06/03
Publication status	Submitted - 11 May 2005

Keywords

IR-64559
EWI-11652
METIS-212052
TST-MFM: Magnetic Force Microscope
SMI-EXP: EXPERIMENTAL TECHNIQUES

Access to Document

http://v3.espacenet.com/publicationDetails/biblio?CC=US&NR=2005211915A1&KC=A1&FT=D&date=20050929&DB=EPODOC&locale=en_EP

Cite this

@misc{3fdbca6dc707496581ef74084458572a,

title = "Probe for an atomic force microscope and method for making such a probe",

abstract = "De uitvinding heeft betrekking op een probe voor een magnetische kracht-microscoop, omvattende een in een wafervlak geplaatste beweegbare cantilever en een in hoofdzaak loodrecht op de cantilever geplaatste tip, waarbij de cantilever beweegbaar is en een trillingsrichting heeft in het wafervlak, en d etip nagenoeg in of evenwijdig aan dit wafervlak ligt.",

keywords = "IR-64559, EWI-11652, METIS-212052, TST-MFM: Magnetic Force Microscope, SMI-EXP: EXPERIMENTAL TECHNIQUES",

author = "{van den Bos}, A.G. and Leon Abelmann and J.C. Lodder",

year = "2005",

month = may,

day = "11",

language = "Undefined",

type = "Patent",

note = "US20050499174",

}

TY - PAT

T1 - Probe for an atomic force microscope and method for making such a probe

AU - van den Bos, A.G.

AU - Abelmann, Leon

AU - Lodder, J.C.

PY - 2005/5/11

Y1 - 2005/5/11

N2 - De uitvinding heeft betrekking op een probe voor een magnetische kracht-microscoop, omvattende een in een wafervlak geplaatste beweegbare cantilever en een in hoofdzaak loodrecht op de cantilever geplaatste tip, waarbij de cantilever beweegbaar is en een trillingsrichting heeft in het wafervlak, en d etip nagenoeg in of evenwijdig aan dit wafervlak ligt.

AB - De uitvinding heeft betrekking op een probe voor een magnetische kracht-microscoop, omvattende een in een wafervlak geplaatste beweegbare cantilever en een in hoofdzaak loodrecht op de cantilever geplaatste tip, waarbij de cantilever beweegbaar is en een trillingsrichting heeft in het wafervlak, en d etip nagenoeg in of evenwijdig aan dit wafervlak ligt.

KW - IR-64559

KW - EWI-11652

KW - METIS-212052

KW - TST-MFM: Magnetic Force Microscope

KW - SMI-EXP: EXPERIMENTAL TECHNIQUES

M3 - Patent

M1 - US20050499174

ER -