Probe voor magnetische kracht microscopie, en werkwijze voor het vervaardigen van een dergelijke probe

G.N. Phillips (Inventor), Leon Abelmann (Inventor), J.C. Lodder (Inventor)

    Research output: Patent

    43 Downloads (Pure)

    Abstract

    De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het vervaardigen van een probe voor magnetische kracht microscopie. De tip wordt gevormd in een bewerking met een gefocusseerde ionen-straal.
    Original languageUndefined
    Patent numberNL1020327
    Publication statusSubmitted - 12 Jan 2003

    Keywords

    • IR-64561
    • SMI-EXP: EXPERIMENTAL TECHNIQUES
    • EWI-11654
    • TST-MFM: Magnetic Force Microscope

    Access to Document

      Cite this