Probe voor magnetische kracht microscopie, en werkwijze voor het vervaardigen van een dergelijke probe

G.N. Phillips (Inventor), Leon Abelmann (Inventor), J.C. Lodder (Inventor)

Research output: PatentProfessional

12 Downloads (Pure)

Abstract

De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het vervaardigen van een probe voor magnetische kracht microscopie. De tip wordt gevormd in een bewerking met een gefocusseerde ionen-straal.
Original languageUndefined
Patent numberNL1020327
Publication statusSubmitted - 12 Jan 2003

Keywords

  • IR-64561
  • SMI-EXP: EXPERIMENTAL TECHNIQUES
  • EWI-11654
  • TST-MFM: Magnetic Force Microscope

Cite this

Phillips, G. N., Abelmann, L., & Lodder, J. C. (2003). Probe voor magnetische kracht microscopie, en werkwijze voor het vervaardigen van een dergelijke probe. Manuscript submitted for publication. (Patent No. NL1020327).
@misc{70371730876f4fb0bcf3d0235252bb46,
title = "Probe voor magnetische kracht microscopie, en werkwijze voor het vervaardigen van een dergelijke probe",
abstract = "De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het vervaardigen van een probe voor magnetische kracht microscopie. De tip wordt gevormd in een bewerking met een gefocusseerde ionen-straal.",
keywords = "IR-64561, SMI-EXP: EXPERIMENTAL TECHNIQUES, EWI-11654, TST-MFM: Magnetic Force Microscope",
author = "G.N. Phillips and Leon Abelmann and J.C. Lodder",
year = "2003",
month = "1",
day = "12",
language = "Undefined",
type = "Patent",
note = "NL1020327",

}

Probe voor magnetische kracht microscopie, en werkwijze voor het vervaardigen van een dergelijke probe. / Phillips, G.N. (Inventor); Abelmann, Leon (Inventor); Lodder, J.C. (Inventor).

Patent No.: NL1020327.

Research output: PatentProfessional

TY - PAT

T1 - Probe voor magnetische kracht microscopie, en werkwijze voor het vervaardigen van een dergelijke probe

AU - Phillips, G.N.

AU - Abelmann, Leon

AU - Lodder, J.C.

PY - 2003/1/12

Y1 - 2003/1/12

N2 - De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het vervaardigen van een probe voor magnetische kracht microscopie. De tip wordt gevormd in een bewerking met een gefocusseerde ionen-straal.

AB - De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het vervaardigen van een probe voor magnetische kracht microscopie. De tip wordt gevormd in een bewerking met een gefocusseerde ionen-straal.

KW - IR-64561

KW - SMI-EXP: EXPERIMENTAL TECHNIQUES

KW - EWI-11654

KW - TST-MFM: Magnetic Force Microscope

M3 - Patent

M1 - NL1020327

ER -