Si-epitaxie op het Si(001) oppervlak bestudeerd met ellipsometrie

L.C. Jorritsma, Henricus J.W. Zandvliet, Herbert Wormeester, H.J.M. Oerbekke, Arend van Silfhout

Research output: Contribution to journalArticleAcademic

Original languageUndefined
Pages (from-to)65-70
Number of pages6
JournalNEVAC blad
Volume31
Issue number3
Publication statusPublished - 1993

Keywords

  • METIS-128876

Cite this