Testbaar ontwerpen en testen van gemengd analoog/digitale microsystemen

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionAcademicpeer-review

    Original languageUndefined
    Title of host publicationProceedings themadag testen van elektronica
    Place of PublicationMicrocentrum, Eindhoven
    Pages3.1-3.19
    Publication statusPublished - 7 Nov 1995

    Keywords

    • METIS-112956

    Cite this

    Kerkhoff, H. G. (1995). Testbaar ontwerpen en testen van gemengd analoog/digitale microsystemen. In Proceedings themadag testen van elektronica (pp. 3.1-3.19). Microcentrum, Eindhoven.